常州探針測試加熱盤定制 無錫市國瑞熱控科技供應

針對半導體晶圓研磨后的應力釋放需求，國瑞熱控**加熱盤以溫和溫控助力晶圓性能穩定。采用鋁合金基體與柔性導熱墊層復合結構，導熱墊層硬度 Shore A 30，可貼合研磨后晶圓表面微小凹凸，確保熱量均勻傳遞。溫度調節范圍 30℃-150℃，控溫精度 ±0.8℃，支持階梯式升溫（每階段升溫 5℃-10℃，保溫 10-30 分鐘），緩慢釋放晶圓內部機械應力。配備氮氣保護系統，避免加熱過程中晶圓表面氧化，且加熱盤表面粗糙度 Ra 小于 0.05μm，無顆粒劃傷晶圓風險。與硅產業集團、中環股份等晶圓廠商合作，使研磨后晶圓翹曲度降低 20% 以上，提升后續光刻、刻蝕工藝的良率。緊湊設計節省空間，輸出熱量強大均勻，受限環境理想選擇。常州探針測試加熱盤定制

無錫國瑞熱控 PVD 工藝**加熱盤，專為物***相沉積環節的嚴苛溫控需求設計。作為晶圓加工的**載體與射頻回路下電極，其采用陶瓷與高純金屬復合基材，經精密研磨確保加熱面平面度誤差小于 0.02mm，為薄膜均勻生長提供穩定基底。內部螺旋狀加熱元件與均溫層協同作用，使晶圓表面溫度均勻性控制在 ±1℃以內，適配 6 英寸至 12 英寸不同規格晶圓。設備整體采用無揮發潔凈工藝處理，在高真空環境下無雜質釋放，搭配快速升溫技術（升溫速率達 30℃/ 分鐘），完美契合 PVD 工藝中對溫度穩定性與生產效率的雙重要求，為半導體薄膜制備提供可靠溫控支撐。常州探針測試加熱盤定制嚴格老化測試性能檢驗，確保產品零缺陷，品質有保障。

針對半導體載板制造中的溫控需求，國瑞熱控**加熱盤以高穩定性適配載板鉆孔、電鍍等工藝。采用不銹鋼基材經硬化處理，表面硬度達 HRC50 以上，耐受載板加工過程中的機械沖擊無變形。加熱元件采用蛇形分布設計，加熱面溫度均勻性達 ±1℃，溫度調節范圍 40℃-180℃，適配載板預加熱、樹脂固化等環節。配備真空吸附系統，可牢固固定不同尺寸載板（50mm×50mm 至 300mm×300mm），避免加工過程中位移導致的精度偏差。與深南電路、興森快捷等載板廠商合作，支持 BT 樹脂、玻璃纖維等不同材質載板加工，為 Chiplet 封裝、扇出型封裝提供高質量載板保障。

面向半導體新材料研發場景，國瑞熱控高溫加熱盤以寬溫域與高穩定性成為科研工具。采用石墨與碳化硅復合基材，工作溫度范圍覆蓋 500℃-2000℃，可通過程序設定實現階梯式升溫，升溫速率調節范圍 0.1-10℃/ 分鐘。加熱面配備 24 組測溫點，實時監測溫度分布，數據采樣頻率達 10Hz，支持與實驗室數據系統對接。設備體積緊湊（直徑 30cm），重量* 5kg，配備小型真空腔體與惰性氣體接口，適配薄膜沉積、晶體生長等多種實驗需求，已服務于中科院半導體所等科研機構。精確穩定溫度環境，提升產品質量一致性，是關鍵工藝保障。

國瑞熱控針對硒化銦等二維半導體材料制備需求，開發**加熱盤適配 “固 - 液 - 固” 相變生長工藝。采用高純不銹鋼基體加工密封腔體，內置銦原子蒸發溫控模塊，可精細控制銦蒸汽分壓，確保硒與銦原子比穩定在 1:1。加熱面溫度均勻性控制在 ±0.5℃，升溫速率可低至 0.5℃/ 分鐘，為非晶薄膜向高質量晶體轉化提供穩定熱環境。設備支持 5 厘米直徑晶圓級制備，配合惰性氣體保護系統，避免材料氧化，與北京大學等科研團隊合作驗證，助力高性能晶體管陣列構建，其電學性能指標可達 3 納米硅基芯片的 3 倍。升溫迅速表面溫差小，過熱保護**耐用，為設備護航。寶山區涂膠顯影加熱盤定制

豐富行業經驗積累，深入了解各行業需求，提供專業解決方案。常州探針測試加熱盤定制

針對等離子體刻蝕環境的特殊性，國瑞熱控配套加熱盤采用藍寶石覆層與氮化鋁基底的復合結構，表面硬度達莫氏 9 級，可耐受等離子體長期轟擊而無材料脫落。加熱盤內部嵌入鉬制加熱絲，經后嵌工藝固定，避免高溫下電極氧化影響加熱性能，工作溫度范圍覆蓋室溫至 500℃，控溫精度 ±1℃。底部設計環形冷卻通道，與加熱元件形成熱平衡調節系統，快速響應刻蝕過程中的溫度波動。設備采用全密封結構，電氣強度達 2000V/1min，在氟基、氯基刻蝕氣體環境中絕緣性能穩定，適配中微半導體刻蝕機等主流設備，為圖形轉移工藝提供可靠溫控。常州探針測試加熱盤定制

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